Моделирование сбора заряда при воздействии тяжелых заряженных частиц в КМОП элементах микросхем |
|
|
|
|
Авторы |
| Зольников В.К. |
| Потапов И.П. |
| Таперо К.И. |
Год публикации |
| 2010 |
УДК |
| 681.3 |
|
Аннотация |
| Рассматриваются вопросы моделирования эффектов в КМОП-структурах при воздействии тяжелых заряженных частиц. Приводятся численные формулы расчета заряда в чувствительных элементах СБИС при воздействии тяжелой заряженной частицы. Предложенная методика позволяет рассчитать для заданного значения линейных потерь энергии падающих частиц форму импульса диффузионной составляющей ионизационного тока и зависимость собранного заряда от времени после попадания частицы. |
Ключевые слова |
| моделирование; радиация; тяжелые заряженные частицы; стойкость; КМОП; микросхемы |
Ссылка на статью |
| Зольников В.К., Потапов И.П., Таперо К.И. Моделирование сбора заряда при воздействии тяжелых заряженных частиц в КМОП элементах микросхем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2010. Сборник трудов / под общ. ред. академика А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2010. С. 275-278. |
Адрес статьи |
| http://www.mes-conference.ru/data/year2010/papers/m10-83-12571.pdf |