| Метрологические проблемы спектрального оценивания параметров переменных процессов и методы их решения с помощью современных средств вычислительной техники |
|
|
| Авторы |
| | Ханян Г.С. |
| Год публикации |
| | 2008 |
| УДК |
| | 53.088.6::517.443 |
|
| Аннотация |
| | Работа носит обобщающий характер, преследуя цель обратить внимание разработчиков измерительно-вычислительных устройств различного назначения с основными проблемами теории и практики дискретного спектрального анализа, требующими решения на элементной базе современной микроэлектроники. Методология изложения доклада построена на постановке и аналитическом решении метрологической задачи, возникающей при разработке приложений спектрального анализа в области измерения амплитудно-фазо-частотных характеристик колебательных процессов различной физической природы. Вытекающие из решения задачи методы оценки параметров гармонических составляющих процессов приводятся в их взаимосвязи и в сравнении с другими методами, известными в литературе. Проводится численное моделирование и спектральный анализ сигналов для оценки точности методов и определения границ их применимости. |
| Ключевые слова |
| | квантование по уровню; срезание сигнала; аналого-цифровое преобразование; оценка параметров; спектральный анализ; численное моделирование |
| Ссылка на статью |
| | Ханян Г.С. Метрологические проблемы спектрального оценивания параметров переменных процессов и методы их решения с помощью современных средств вычислительной техники // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2008. С. 496-503. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2008/94.pdf |
