| Бивалентный дефект модулярных кодов. Выбор технологичных модулей понижающих бивалентный дефект |
|
|
| Авторы |
| | Амербаев В.М. |
| | Тельпухов Д.В. |
| | Константинов А.В. |
| Год публикации |
| | 2008 |
| УДК |
| | 004.272.2 |
|
| Аннотация |
| | Изучается актуальная проблема адаптации перспективных нетрадиционных многозначных арифметик параллельной структуры к двузначной элементной базе современных технологий проектирования. Вводится понятие бивалентного дефекта модулярных кодов. Бивалентный дефект позволяет осуществлять гибкий выбор технологичных модулей в зависимости от поставленных технологических целей. |
| Ключевые слова |
| | бивалентный дефект, технологичные модули, модулярные коды, система остаточных классов. |
| Ссылка на статью |
| | Амербаев В.М., Тельпухов Д.В., Константинов А.В. Бивалентный дефект модулярных кодов. Выбор технологичных модулей понижающих бивалентный дефект // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2008. С. 462-465. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2008/87.pdf |
