| Анализ работоспособности субмикронных КМОП СБИС ОЗУ при экстремальных тепловых режимах |
|
|
| Авторы |
| | Краснюк А.А. |
| | Стенин В.Я. |
| | Черкасов И.Г. |
| | Яковлев А.В. |
| Год публикации |
| | 2008 |
| УДК |
| | 621.38 |
|
| Аннотация |
| | Моделирование и экспериментальное исследование теплового изменения характеристик КМОП ячеек памяти субмикронных КМОП ОЗУ в широком диапазоне температур от минус 50оС до +150оС показали, что СБИС с субмикронными проектными нормами на основе объемного КМОП с эпитаксиальными слоями 0,35 мкм и индустриального объемного КМОП 0,18 мкм технологических процессов в целом обеспечивают высокие предельно допустимые тепловые режимы эксплуатации. |
| Ключевые слова |
| | субмикронные КМОП СБИС ОЗУ, экстремальные тепловые режимы |
| Ссылка на статью |
| | Краснюк А.А., Стенин В.Я., Черкасов И.Г., Яковлев А.В. Анализ работоспособности субмикронных КМОП СБИС ОЗУ при экстремальных тепловых режимах // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2008. С. 447-452. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2008/84.pdf |
