| Оценка параметров чувствительности СБИС к радиационным эффектам с помощью методики локального лазерного облучения |
|
|
| Авторы |
| | Чумаков А.И. |
| | Печенкин А.А. |
| | Егоров А.Н. |
| | Маврицкий О.Б. |
| | Баранов С.В. |
| | Васильев А.Л. |
| | Криницкий А.В. |
| Год публикации |
| | 2008 |
| УДК |
| | 621.382 |
|
| Аннотация |
| | Представлены результаты расчетно-экспериментального моделирования для оценки параметров чувствительности СБИС к эффектам одиночных сбоев и тиристорным эффектам при воздействии отдельных ядерных частиц. Методика базируется на использовании локального лазерного воздействия на отдельные элементы и узлы СБИС. |
| Ключевые слова |
| | Одиночные эффекты, радиационная стойкость, лазерное излучение |
| Ссылка на статью |
| | Чумаков А.И., Печенкин А.А., Егоров А.Н., Маврицкий О.Б., Баранов С.В., Васильев А.Л., Криницкий А.В. Оценка параметров чувствительности СБИС к радиационным эффектам с помощью методики локального лазерного облучения // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2008. С. 276-279. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2008/50.pdf |
