Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Синтез топологии стандартных КМОП ячеек с учетом эффекта электромиграции
Авторы
	Розенфельд В.П.
	Зинченко Л.А.
	Мазиас Р.Л.
	Смирнов Ю.Г.
	Сомов С.В.
	Топузов И.Г.
Год публикации
	2008
УДК
	621.38
Аннотация
	В работе предложены методы синтеза топологии стандартных КМОП ячеек, стойких к последствиям эффекта электромиграции. Предложен быстрый метод оценки средней плотности тока в проводниках, учитывающий топологию и электрическую схему ячейки. Предложены критерии, позволяющие сравнивать варианты трассировки ячейки с точки зрения их электромиграционной стойкости. Рассмотрены методы оптимизации топологии ячейки по критерию электромиграционной стойкости проводников, формирующих выходной каскад.
Ключевые слова
	Синтез топологии стандартных КМОП ячеек, электромиграция
Ссылка на статью
	Розенфельд В.П., Зинченко Л.А., Мазиас Р.Л., Смирнов Ю.Г., Сомов С.В., Топузов И.Г. Синтез топологии стандартных КМОП ячеек с учетом эффекта электромиграции // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2008. С. 120-125.
Адрес статьи
	http://www.mes-conference.ru/data/year2008/18.pdf