| Методы характеризации библиотечных элементов с учетом вариаций пороговых напряжений транзисторов |
|
|
| Авторы |
| | Каграманян Э.Р. |
| | Гаврилов С.В. |
| | Егоров Ю.Б. |
| Год публикации |
| | 2008 |
| УДК |
| | 621.3.049.77:658.512 |
|
| Аннотация |
| | В работе предложена модель стандартного цифрового КМОП вентиля для временного анализа надежности БИС с учетом деградации пороговых напряжений транзисторов (NBTI эффект). Для характеризации модели использован метод квадратичной
аппроксимации задержек и длительностей фронтов.
Полученные результаты позволяют сделать вывод о
приемлемой эффективности предложенного подхода. |
| Ключевые слова |
| | Вариации, температурная нестабильность при отрицательном смещении, квадратичная аппроксимация, линейная аппроксимация |
| Ссылка на статью |
| | Каграманян Э.Р., Гаврилов С.В., Егоров Ю.Б. Методы характеризации библиотечных элементов с учетом вариаций пороговых напряжений транзисторов // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2008. С. 102-107. |
| Адрес статьи |
| | http://www.mes-conference.ru/data/year2008/15.pdf |
