Система сжатия и миграции топологии стандартных ячеек

Розенфельд, Владимир Павлович; Сотников, Михаил Анатольевич; Топузов, И.Г.; Улуханов, Э.А.; Широ, Евгений Георгиевич

Главная Авторы Статьи Год проведения Тематика Организации Конференция МЭС

Авторы

Год публикации

2005

УДК

621.3.049.771.14.011.752-022.53

Аннотация

Современные полупроводниковые технологии достигли степени интеграции с минимальным размером топологического объекта менее длины волны, используемой при фотолитографии. Это привело к значительному усложнению литографического процесса и, как следствие, к известным технологическим ограничениям на минимальное расстояние и размер объектов топологии добавились новые, более сложные технологические правила. Данные правила зависят от конфигурации, геометрических размеров и взаимного расположения объектов топологии. Технологические ограничения такого вида делают процесс разработки топологий современных интегральных микросхем более трудоемким, чем раньше. Уменьшение размеров привело к тому, что проводники вносят существенный вклад в задержку распространения сигнала даже на уровне стандартной ячейки. Учёт подобных схемотехнических проблем при разработке топологии является ещё одним фактором сложности. Наряду с перечисленными проблемами происходит быстрая смена полупроводниковых технологий. Каждый год появляется новый технологический процесс с меньшим размером топологических объектов, который в первую очередь требует разработки новых библиотек стандартных ячеек. Высокая динамика современного рынка микросхем требует создания библиотек во всё более сжатые сроки и часто одновременно с разработкой новых технологических процессов.
Таким образом, сложные технологические правила, учёт влияния межсоединений, факторов надёжности работы микросхемы и сжатые сроки проектирования делают невозможным разработку топологии стандартных ячеек без использования САПР. Важнейшими задачами автоматического проектирования топологии являются сжатие и технологическая миграция.

Ключевые слова

сжатие топологии, миграция топологии, стандартные ячейки

Ссылка на статью

Розенфельд В.П., Сотников М.А., Топузов И.Г., Улуханов Э.А., Широ Е.Г. Система сжатия и миграции топологии стандартных ячеек // Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем - 2005. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2005. С. 121-127.

Адрес статьи

http://www.mes-conference.ru/data/year2005/18.doc