Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Аппаратная верификация рекуррентного обработчика сигналов на ПЛИС  

Авторы
 Дьяченко Ю.Г.
 Степченков Ю.А.
 Морозов Н.В.
 Хилько Д.В.
 Степченков Д.Ю.
 Шикунов Ю.И.
Год публикации
 2021
DOI
 10.31114/2078-7707-2021-2-77-82
УДК
 004.31:004.032.34

Аннотация
 В работе представлены результаты верификации аппаратной реализации гибридной многоядерной архитектуры рекуррентного сигнального процессора (ГМАРСП), представленной VHDL-моделью уровня регистровых передач. Макетный образец реализован на отладочной плате HAN Pilot Platform с программируемой логической интегральной схемой (ПЛИС) Intel Arria10 SoC 10AS066K3F40E2SG с помощью системы Quartus Pro 18 (Intel). ГМАРСП включает ведущий фон-неймановский процессор в качестве управляющего уровня и потоковый процессор с четырьмя вычислительными ядрами в качестве операционного уровня. В составе макетного образца управляющий процессор (УП) реализуется либо программно (NIOS II), либо аппаратно (ARM Cortex-A9). Тестирование аппаратной реализации ГМАРСП на типовом приложении цифровой обработки данных – распознавателе изолированных слов (РИС) – на отладочной плате подтвердило ее битэкзектность имитационной модели ГМАРСП и исходной С++ модели РИС. Достигнутая производительность аппаратной реализации ГМАРСП обеспечивает работу РИС на отладочной плате в режиме реального времени. Верификация аппаратной реализации ГМАРСП на синтетических тестах, покрывающих основную часть алгоритмов цифровой обработки сигналов, показала, что ее производительность в среднем на 5% превышает производительность процессора обработки цифровых данных C55x фирмы Texas Instruments.
Ключевые слова
 рекуррентный сигнальный процессор; гибридная многоядерная архитектура; VHDL-модель; ПЛИС; распознаватель изолированных слов.
Ссылка на статью
 Дьяченко Ю.Г., Степченков Ю.А., Морозов Н.В., Хилько Д.В., Степченков Д.Ю., Шикунов Ю.И. Аппаратная верификация рекуррентного обработчика сигналов на ПЛИС // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2021. Выпуск 2. С. 77-82. doi:10.31114/2078-7707-2021-2-77-82
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2021/pdf/D016.pdf

Copyright © 2009-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН